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La spectrométrie de fluorescence X est une technique d’analyse chimique qui permet d’identifier la composition élémentaire d’un échantillon à partir de son spectre de fluorescence X. Aussi appelée SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence, cette méthode repose sur les propriétés uniques des éléments lorsqu’ils sont exposés aux rayons X. Elle est utilisée dans de nombreux domaines, tels que :
- L’archéologie, pour déterminer la composition des objets anciens
- La géologie, pour l’analyse de minéraux
- L’industrie, pour contrôler la qualité des alliages métalliques
- L’environnement, pour tester la présence de métaux lourds dans les sols ou les eaux.
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Qu’est-ce que la fluorescence X ?
La fluorescence X est un phénomène physique qui se produit lorsqu’une matière est soumise à un rayonnement X. Certains atomes de la matière absorbent l’énergie des photons X et émettent des photons X de plus faible énergie, caractéristiques de leur structure électronique.
En mesurant l’intensité et la longueur d’onde de ces photons X émis, on peut identifier les éléments présents dans l’échantillon et estimer leur concentration.
Quels sont les principes de base de la spectrométrie de fluorescence X ?
Il existe deux principaux types de spectrométrie de fluorescence X, selon la méthode d’analyse du spectre.
La spectrométrie EDXRF
Il s’agit de la spectrométrie de fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF, energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry). Elle utilise un détecteur à semi-conducteur, qui mesure directement l’énergie des photons X émis par l’échantillon. Le coût d'un détecteur de plomb pour cette technique est généralement abordable, rendant cette méthode accessible pour de nombreux laboratoires et applications industrielles. Cette technique est également utilisée dans le diagnostic de plomb dans les peintures et autres matériaux, en raison de sa précision et de sa facilité d'utilisation.
L’avantage de cette méthode réside dans sa simplicité et son coût. Sa résolution limitée peut cependant entraîner des interférences entre les raies spectrales des éléments.
La spectrométrie WD-XRF
Il s’agit de la spectrométrie de fluorescence X à dispersion de longueur d’onde (WD-XRF, wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry). Elle utilise un cristal ou un réseau, qui diffracte les photons X émis par l’échantillon selon leur longueur d’onde.
Cette méthode offre une haute résolution permettant de distinguer les raies spectrales de différents éléments.
Comment fonctionne un appareil à fluorescence X ?
Pour saisir le fonctionnement d’un appareil à fluorescence X, il est important de comprendre ses composants clés et le rôle qu’ils jouent dans le processus d’analyse.
La source de rayons X
Elle est responsable de l’émission de photons de haute énergie vers l’échantillon. Elle produit un faisceau de photons X en accélérant des électrons sur une cible métallique, ou une source radioactive. Elle émet des photons X par désintégration nucléaire.
Le collimateur
Il est conçu pour capturer les photons émis par l’échantillon à la suite de l’excitation. Le dispositif permet de diriger le faisceau de rayons X vers l’échantillon à analyser, en éliminant les rayons X parasites.
Le détecteur
Il s’agit notamment d’un compteur de type Geiger, d’un détecteur à scintillation ou d’un détecteur à semi-conducteur. Il permet de capturer les photons de fluorescence émis par l'échantillon après excitation par les rayons X et de les convertir en signaux électriques. Dans certains cas, un détecteur de plomb spécifique est utilisé pour améliorer la détection des éléments lourds dans les échantillons.
L’analyseur
C’est un système électronique de traitement de données qui analyse les signaux recueillis par le détecteur.
Le circuit électronique transforme les signaux du détecteur en un spectre de fluorescence X. Il s’agit d’un graphique qui représente l’intensité des photons X en fonction de leur longueur d’onde ou de leur énergie.
L’ordinateur
C’est un système informatique qui traite le spectre de fluorescence X. Il sert à positionner et à manipuler l’échantillon afin de le comparer à des bases de données de référence. Cela permet d’identifier les éléments présents dans l’échantillon et de calculer leur concentration.
Quels sont les avantages de la spectrométrie par fluorescence X ?
La spectrométrie de fluorescence X est non destructive. Elle permet d’analyser l’échantillon sans le modifier physiquement. Elle permet de réaliser des analyses en quelques minutes en fournissant des résultats rapides et des mesures précises de la concentration des éléments.
La spectrométrie de fluorescence X est polyvalente et peut être utilisée pour analyser une grande variété de matériaux solides, liquides ou en poudre. La sensibilité à la plupart des éléments du tableau périodique, de l’hydrogène au plutonium, permet de couvrir un large spectre d’applications, telles que la géologie, la métallurgie, l’archéologie, l’environnement, la médecine et la criminalistique.
La version portable de l’appareil à fluorescence X permet d’effectuer des analyses sur le terrain. Elle consomme moins d’énergie et de réactifs, ce qui réduit les coûts et l’impact environnemental.
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